在Android系统层排查系统卡顿问题时，可以使用以下命令和工具：

1. top：top命令可以用于查看系统中的进程和线程的CPU使用情况，以及内存占用情况。通过观察CPU使用率较高的进程或线程，可以定位系统卡顿的原因。

2. ps：ps命令可以列出当前运行的进程信息，包括进程的PID（进程ID）、CPU使用率、内存占用等。可以通过ps命令查看系统中的进程状态，寻找异常占用资源的进程。

3. dumpsys：dumpsys命令可以获取系统服务的状态和信息。可以使用dumpsys命令获取各种系统服务的状态，如Activity Manager、Window Manager、Input Manager等，来检查系统的状态和性能指标。

4. systrace：systrace是一个强大的系统层性能分析工具，可以捕获并分析系统在各个层面的事件和调用情况。通过systrace工具，可以分析系统的CPU使用情况、图形渲染、I/O操作等，找出导致系统卡顿的原因。

5. logcat：logcat命令可以查看系统的日志信息，包括应用和系统的日志。通过观察logcat输出，可以发现系统中的错误、警告和异常情况，进而分析系统卡顿的原因。

6. batterystats：batterystats命令用于分析系统的电池使用情况。通过观察应用和系统的电池使用情况，可以发现一些耗电或性能问题，从而找出可能导致系统卡顿的原因。

7. adb shell dumpsys cpuinfo：该命令可以查看系统中各个进程的CPU使用情况，包括用户进程和系统进程。通过观察CPU使用率较高的进程，可以了解系统中的CPU瓶颈。

要测试Android系统中的IO性能问题，可以使用以下命令和方法：

1. dd命令：dd命令可以在Android系统中进行IO性能测试。它可以模拟读取和写入大量数据，并测量读写操作的速度。以下是一些示例命令：

   • 测试磁盘读取速度：dd if=/dev/sda of=/dev/null bs=1M count=1000
   • 测试磁盘写入速度：dd if=/dev/zero of=/dev/sda bs=1M count=1000

   这些命令将从输入设备（if）读取数据，然后写入到输出设备（of），通过bs参数指定块大小，count参数指定块的数量。可以根据需要调整块大小和数量，以便进行IO性能测试。

2. FIO（Flexible I/O Tester）：FIO是一款强大的开源IO性能测试工具，可用于在Android系统中进行复杂的IO性能测试。它支持多种IO模式和测试参数的配置，可以进行顺序读写、随机读写、混合读写等不同类型的测试。FIO需要在Android系统上进行编译和安装，并且需要root权限才能执行。

3. Android Profiler：Android Studio提供了一个强大的性能分析工具集，称为Android Profiler。它可以帮助开发者分析应用的CPU、内存、网络和IO性能。通过Android Profiler，可以监测应用的IO操作，例如文件读写、数据库访问等，并查看其性能指标和耗时情况。

4. Traceview：Traceview是一个用于分析应用程序性能的工具，可以捕获和分析应用程序的方法调用和事件。通过Traceview，可以检查应用的IO操作，包括文件读写、数据库查询等，并分析其执行时间和性能瓶颈。